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一种非同温条件下的发射率测量方法
添加时间:2023-12-07 浏览次数: 473

专利号:2020110216722

本发明公开了一种非同温条件下的发射率测量方法,具体包括以下三个步骤:红外光谱测量、基于滑动窗口的发射率计算方法和合成多段发射率曲线。本发明提供了一种非同温发射率测量和计算方法,本发明使用一定宽度的滑动窗口对光谱数据分别进行循环处理计算滑动窗口内的发射率,通过滑动窗口的设定,避免非同温引起的光谱偏差,降低了发射率估算误差;并且本发明通过滑动窗口,实现对光谱偏差的抑制,提高了发射率的估算精度;本发明可实现对非同温自然地表发射率的高精度测量,具有较好的应用价值。


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